Dr.-Ing. Johannes Jaeschke leitet seit 2015 die Gruppe »System Reliability Assessment« in der Abteilung »Environmental and Reliability Engineering« des Fraunhofer IZM. Nach seinem Studium der Elektrotechnik an der Technischen Universität Berlin promovierte er 2012 zum Thema »Ausfallmechanismus Elektromigration in Lotverbindungen«.
Seine Forschungsschwerpunkte umfassen das Zuverlässigkeitsmanagement elektronischer (Mikro-)Systeme und deren anwendungsspezifische Zustandsbewertung mithilfe digitaler Zwillinge für eine nachhaltige Kreislaufwirtschaft. Zudem betreut er Bachelor-, Master- und Promotionsarbeiten am Fraunhofer IZM sowie am Forschungsschwerpunkt TMP der TU Berlin. Als Dozent an der TU Berlin vermittelt er Studierenden die methodischen Grundlagen und Anwendungsperspektiven der Zuverlässigkeitsbewertung von Elektroniksystemen
3D-Integration 5G 6G Antennen Autonomes Fahren Batterietechnologie Bio-Elektronik Chiplets Digitaler Zwilling Drahtlose Kommunikation Electronic Packaging Elektronische Textilien Embedding Energielabel Flip-Chip Halbleiter Hardwaresicherheit Heterogene Integration Hochleistungscomputer IKT Industrie 4.0 Internet der Dinge Kreislaufwirtschaft Künstliche Intelligenz Lebenszyklusanalyse Leistungselektronik Maschinelles Lernen Medizintechnik Nachhaltige Elektronik Neuromorphes Computing Photonisch Integrierte Schaltungen Radar Sensorik Wafer-Level-Capping Wafer-Level Packaging Wissenschaftskommunikation Zirkuläres Design Zuverlässigkeit elektronischer Systeme Ökodesign elektronischer Produkte
