Daniel Hahn, Fraunhofer IZM

Daniel Hahn

Daniel Hahn ist seit 2011 als Wissenschaftler am Fraunhofer IZM tätig. Er studierte Elektrotechnik an der Technischen Universität Berlin. Durch seinen akademischen Schwerpunkt in der Mikrosystemtechnik interessiert er sich für die Zuverlässigkeit elektronischer Systeme, insbesondere die Mikrosystemtechnik, und die vielfältigen Wechselwirkungen der Technologien in diesen Systemen.

In seiner Forschung konzentriert er sich auf die Entwicklung von Verfahren für anwendungsorientierte Tests (einschließlich Themen wie Missionsprofile, Alterungsmodelle, beschleunigte Tests, Systemzuverlässigkeit und Statistik).

daniel.hahn@izm.fraunhofer.de +49 30 46403-7960